A revolução tecnológica nos permite avanços científicos diários. Na história da microscopia partimos de um par de lentes ampliadoras até microscópios capazes de analisar moléculas. Sobre o Microscópio Eletrônico de Transmissão verifique as afirmativas e a Figura 1 a seguir: I- A microscopia eletrônica de transmissão (M. E. T. ) possui um fator limítrofe considerável em suas análises: pequeno campo de visão. Este fato possibilita que o resultado seja sub- ou superestimado. II- Em preparações utilizando materiais biológicos os feixes de elétrons não interferem danosamente na amostra. III- Características como plasticidade e flexibilidade da amostra são passíveis de avaliação através da M. E. T. Devido os raios-X que fornecem as informações sobre os elementos químicos da amostra. IV- Quando os elétrons sofrem pouco desvio imagens de campo claro são formadas, quando os elétrons são difratados nos planos cristalinos do material em análise são formadas imagens de campo escuro. V- A micoscopia eletrônica de transmissão não permite a análise de defeitos e fases internas dos materiais, como discordâncias, defeitos de empilhamento e pequenas partículas de segunda fase
Soluções para a tarefa
Sobre os avanços científicos e a revolução tecnológica, a respeito do Microscópio Eletrônico de Transmissão, apenas as alternativas I e IV estão corretas.
Microscópio Eletrônico de Transmissão
A alternativa I está correta, pois o campo de visão relativamente pequeno, é uma limitação do MET aumentando a possibilidade de que a região analisada pode não ser igual ao restante da amostra.
Já a alternativa II, está incorreta, pois a estrutura da amostra pode ser alterada durante o processo de preparação. Sendo possível que a amostra seja danificada por um feixe de elétrons.
A alternativa III está incorreta, já que as interações do feixe com o material geram raios-X característicos que fornecem informações sobre os elementos químicos.
A alternativa IV está correta, pois as imagens de campo claro são formadas por elétrons que sofrem pouco desvio, enquanto as de campo escuro são formadas por elétrons difratados pelos planos cristalinos.
E a alternativa V também é incorreta, pois a microscopia eletrônica de transmissão permite a análise de defeitos e fases internas dos materiais, como discordâncias, defeitos de empilhamento e pequenas partículas de segunda fase.
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