Question

As nove medidas que seguem são temperaturas de fornalha, registradas em bateladas sucessivas de um processo de fabricação de semicondutores (unidades em °F): 953, 950, 948, 955, 951, 949, 957, 954 e 955. Calcule a média, desvio-padrão e variância da amostra e assinale a opção desses resultados em ordem RESPECTIVA:
a.
951,09; 4,00 e 16,00.



b.
900; 2,5 e 8.







c.
950,76; 3,08 e 9,49.



d.
949; 2,5 e 6,25.



e.
952,44; 3,09 e 9,53.

Answer 1

Resposta:

E - 952,44; 3,09 e 9,53

Explicação passo a passo: