Question

1. Materiais nanoestruturados, compostos por grafeno e seus materiais derivados, necessitam de alto controle de qualidade em seus processos de obtenção, de modo a garantir a pureza, a estrutura e as propriedades desejadas para uma performance específica. Diferentes métodos de caracterização podem ser usados nesses processos. Como o uso de MET (Microscopia Eletrônica de Transmissão) pode contribuir para a caracterização do grafeno e de seus materiais derivados?


a. Em um equipamento de MET, um feixe de elétrons interage com uma amostra de espessura apropriadamente fina posicionada em um anteparo enquanto a atravessa. A imagem ampliada é formada a partir da interação de elétrons transmitidos e difratados. Essa imagem produzida é uma projeção bidimensional da amostra, e pode ser formada em campo escuro ou campo claro, bem como via difração de elétrons, conforme o modo de operação do equipamento.


b. Em um equipamento de MET, um feixe de elétrons interage com uma amostra de espessura apropriadamente fina posicionada em um anteparo enquanto a atravessa. A imagem ampliada é formada a partir da absorção de elétrons. Essa imagem produzida é uma projeção bidimensional da amostra, e pode ser formada em campo escuro ou campo claro, bem como via difração de nêutrons, conforme o modo de operação do equipamento.


c. Em um equipamento de MET, um feixe de nêutrons interage com uma amostra de espessura apropriadamente fina posicionada em um anteparo enquanto a atravessa. A imagem ampliada é formada a partir da interação de nêutrons transmitidos e difratados. Essa imagem produzida é uma projeção bidimensional da amostra, e pode ser formada em campo escuro ou campo claro, bem como via difração de fótons, conforme o modo de operação do equipamento.


d. Em um equipamento de MET, um feixe de fótons interage com uma amostra de espessura apropriadamente fina posicionada em um anteparo enquanto a atravessa. A imagem ampliada é formada a partir da interação de fótons transmitidos e difratados. Essa imagem produzida é uma projeção tridimensional da amostra, e pode ser formada em campo escuro, bem como via difração de elétrons, conforme o modo de operação do equipamento.


e. Em um equipamento de MET, um feixe de elétrons interage com uma amostra de espessura apropriadamente fina posicionada em um anteparo sem atravessá-la. A imagem ampliada é formada a partir da interação de fótons transmitidos e difratados. Essa imagem produzida é uma projeção bidimensional da amostra, e pode ser formada em campo escuro ou campo claro, bem como via difração de nêutrons, conforme o modo de operação do equipamento.
RESPOSTA: (A)

Answer 1

Resposta:

Resposta Correta letra A

Explicação: